株式会社 戸上電機製作所

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製品情報

PRODUCTS

戸上電機は、高圧開閉器を主力として、
“電気”に関する製品を幅広くラインナップしています。

  
ストリングトレーサ

SPST-B

I-V特性測定装置
ストリングトレーサ(1000V対応品)

産業用、メガソーラーまでの太陽電池モジュールの異常ストリングを特定する装置です。施工時、定期点検時のモジュールの良否判定に使用することにより、点検の効率化が可能です。

  

特長

  • 4ストリング分の測定結果を1画面に表示します。
  • ストリング間の相対比較方式のため、短時間で良否判定が簡単です。
  • 結果をSDカードに保存でき、データをPCで利用可能です。
  • 計測データ収集としても利用可能です。

機能

1.ストリング 測定(移動モード)


複数ストリングのI-V 特性を連続で測定することが可能です。
最大4 ストリング分のI-V 特性測定結果を同一グラフ上に表示し、ストリング間の相対比較による異常判定が容易に可能です。


2.ストリング 測定(同時モード)


最大2 ストリングのI-V 特性を同時に測定することが可能です。最大2 ストリング分のI-V 特性測定結果を同一グラフ上に表示し、 ストリング間の相対比較による異常判定が容易に可能です。ストリング状態チェックとして、開放電圧(Voc) を測定し、断線チェックが行えます。


3.モジュール単体測定(移動・同時モード)


PVTEC ガイドラインに準拠した測定時間でI-V 特性試験が可能です。( 太陽電池モジュール単体のみ)
ストリング測定と同様に移動モード、同時モードでの測定が可能です。


4.電圧テスタ(開放電圧測定)


ストリングの開放電圧を測定可能です。

種類

形式 SPST-B
オプション品 全天日射計・温度計、シリコン日射計・温度計、MC4テストリード

定格および仕様

                     
形式 SPST-B-1000
電圧測定範囲 ストリング測定 DC20.0V~DC1000.0V
モジュール単体測定 DC20.0V~DC200.0V
電流測定範囲 DC0.50A~DC15.00A
電力測定範囲 ストリング測定 10W~12000W
モジュール単体測定 10W~500W
定格電源電圧 【単三電池×4本使用時】
DC6.0V(変動範囲DC4.5V~DC7.2V)
測定精度 電圧:±1%rdg±5dgt
電流:±1%rdg±5dgt
日射:±5%rdg±5dgt
温度:±1℃
I-V特性 測定点数 100点
I-V特性 測定時間 ストリング測定 100ms以下
モジュール単体測定 200msまたは400ms(モジュール種別により選択)
機能 ①I-V特性測定
・ストリング測定(移動モード、同時モード)
・モジュール単体測定(移動モード、同時モード)      
②電圧テスタ
データ保存件数 1日最大500ファイル×100日分 合計=最大50,000ファイル
この件数以上となる場合は、データ管理ソフトウェアにてデータ管理を行って下さい。
SDカード内は、この件数を超えないようにデータを消去して下さい。
その他の機能 オートパワーオフ機能(5分)
形状 213(W)×203(H)×60(D)㎜ (突起含む)
重量 約1.3㎏(電池含まず)
付属品 マグネットプロ―ブ2組、針状プロ―ブ1組、テストリード1組、SDカード、日よけ板、取扱説明書、 ショルダーベルト、単三アルカリ乾電池4個、キャリングケース

Q&A

01
I-Vカーブの波形に対する異常の判定方法はどのようにしますか。
I-Vカーブを2~4ストリング重ねて表示しますので、カーブにずれのあるストリングが、何かしら発電量が低下しているストリングと判断することができます。
02
1枚のパネルの発電量を計測できますでしょうか。
SPST-B-1000にてモジュール単体測定が可能です。別途、オプション品のMC-4テストリードをご購入いただく必要があります。
03
SDカードに保存できるデータ量はどれくらいでしょうか。
1日最大500ファイル×100日分=最大50,000ファイル
この件数以上となる場合はデータ管理ソフトウェアにてデータ管理を行って下さい。SDカード内はこの件数を超えないようにデータ消去して下さい。
04
CSVデータからグラフで見る方法はありますでしょうか。
ストリングトレーサ測定データ管理ソフトをダウンロード下さい。当社ホームページからダウンロードが可能です。
05
ストリング枚数が異なる場合はどうなりますか。
ストリングの実値では比較対象にはなりませんので、STC変換を推奨します。
06
データをプリントアウトしたいです。
SDカードに保存されたデータをPCで確認できるため、PCから印刷可能です。
07
校正は必要でしょうか。
期間としては2年に一回程度、定期的な校正を行うことを推奨します。
  

詳細

不具合事例

モジュール・ストリングに異常が発生した場合のI-Vカーブの特徴を以下に示します。
※同様の異常モードであっても同じ様相となることを保証するものではありません。

①Iscの低下

Iscの低下

< 現象 >
ストリング単位での発電低下(ストリング全体での遮光・減光)またはストリング構成違いのおそれ。

< 推定要因 >
・雲の影響等により測定時の日射そのものが変動
・砂塵等の汚損により、ストリング全体が遮光されている
・ストリング構成(並列回路数)の違い


②Voc~Pmaxの傾きの緩化

Voc~Pmaxの傾きの緩化

< 現象 >
ストリング内の直列抵抗の増加のおそれ。

< 推定要因 >
・コネクタのゆるみ、接触不良等
・パネルの劣化


③Isc~Pmaxの傾きの緩化

Voc~Pmaxの傾きの緩化

< 現象 >
モジュールの並列抵抗の低下のおそれ。

< 推定要因 >
・バイパスダイオードの劣化


④Voc付近で尾を引いている

Voc付近で尾を引いている

< 現象 >
1枚~数枚のモジュールでパネル落ちには至らない発電低下のおそれ。

< 推定要因 >
・大きな影によるパネル単位での遮光
・砂塵の降積による汚損

⑤Pmax付近の低下

Pmax付近の低下

< 現象 >
クラスタ落ちまで至らない、一部セルの発電低下・停止のおそれ。

< 推定要因 >
・小さな影による数枚のセルへの遮光


⑥階段状の低下

階段状の低下

< 現象 >
複数のクラスタ・モジュールで⑤のようなクラスタ落ちに至らない発電低下のおそれ。

< 推定要因 >
・大きな影による複数クラスタへの遮光
・砂塵の降積による汚損
・一部ガラス割れ等による遮光


⑦Vocの低下

Vocの低下

< 現象 >
クラスタまたはパネル単位で発電停止のおそれ。ストリング構成違いのおそれ。

< 推定要因 >
・大きな影によるクラスタ、パネル単位での遮光
・砂塵の降積による広範囲の汚損
・ストリング構成(直列枚数)の違い


ソフトウェア更新情報

2022年12月19日 SPST-B-1000 本体ソフトウェア 更新ソフトウェア掲載
2024年3月29日 SPST-B-1000 データ管理ソフトウェア 更新ソフトウェア掲載

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