
SPST-B
柱上用SOG開閉器は、通称PAS(Pole Air Switch)と言われ、自家用高圧受電設備から電力会社配電線への波及事故を防止するために設置されています。地中線用SOG開閉器は、設置場所に電柱が建てられない、美観上電柱を立てたくない箇所、地中化区域などへ設置されています。
SOG制御装置は、短絡や地絡の発生を検出することで波及事故を防ぎ、電力会社の配電線への影響を最小限に抑えます。SOGとは「Storage Over Current Ground」の略で、SOは「短絡・過電流」、Gは「地絡」を表します。
高圧開閉器は、工場構内の区分開閉器として設置されています。戸上電機は用途に応じて豊富にラインナップしております。高圧遮断器は、電気事故発生時に、電気回路を遮断します。
突入電流防止回路や予備充電回路に使用するBRリレーや、標準形電磁開閉器、経済形電磁開閉器、直流操作形電磁開閉器をはじめとした電磁開閉器など、豊富にラインナップしております。
モータやポンプなど機器類の開閉を制御するユニットです。経済性と使いやすさ、省スペース化などコンパクトな設計が特長であり、お客様のニーズに合わせて必要な機能を組み合わせるなど、柔軟な個別の設計が可能です。
高圧受配電盤をはじめとした各種配電盤を豊富にラインナップしております。お客様のニーズに合わせて必要な機能を組み合わせるなど、柔軟な個別設計が可能です。
爆発性雰囲気の着火源とならないように、防爆エリアに応じた防爆形制御機器をラインナップしております。腐食性ガス雰囲気中での使用に適した防食形制御機器をラインナップしております。
発電所・プラント設備・鉄道などの重要設備におけるケーブル探査、漏電点探査、配線チェックなどの探査・測定機器や、地絡継電器およびSOG制御装置の動作試験が可能な位相特性試験器を取り扱っております。
アークフォルトによる火災を未然に防ぐアークキャッチャー、I-Vカーブを相対比較し、異常ストリングを検知できるストリングトレーサ、故障モジュールを特定するセルラインチェッカなど、PVドクターシリーズとしてラインナップしております。
新しい技術を融合させた最適な商品・サービスの開発により、社会課題を解決します。保安レベルの持続的向上を実現するために、AI やIoT などを活用した「スマート保安」を提案します。
戸上電機は、高圧開閉器を主力として、
“電気”に関する製品を幅広くラインナップしています。
SPST-B
産業用、メガソーラーまでの太陽電池モジュールの異常ストリングを特定する装置です。施工時、定期点検時のモジュールの良否判定に使用することにより、点検の効率化が可能です。
1.ストリング 測定(移動モード)
複数ストリングのI-V 特性を連続で測定することが可能です。
最大4 ストリング分のI-V 特性測定結果を同一グラフ上に表示し、ストリング間の相対比較による異常判定が容易に可能です。
2.ストリング 測定(同時モード)
最大2 ストリングのI-V 特性を同時に測定することが可能です。最大2 ストリング分のI-V 特性測定結果を同一グラフ上に表示し、 ストリング間の相対比較による異常判定が容易に可能です。ストリング状態チェックとして、開放電圧(Voc) を測定し、断線チェックが行えます。
3.モジュール単体測定(移動・同時モード)
PVTEC ガイドラインに準拠した測定時間でI-V 特性試験が可能です。( 太陽電池モジュール単体のみ)
ストリング測定と同様に移動モード、同時モードでの測定が可能です。
4.電圧テスタ(開放電圧測定)
ストリングの開放電圧を測定可能です。
形式 | SPST-B |
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オプション品 | 全天日射計・温度計、シリコン日射計・温度計、MC4テストリード |
形式 | SPST-B-1000 | |
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電圧測定範囲 | ストリング測定 | DC20.0V~DC1000.0V |
モジュール単体測定 | DC20.0V~DC200.0V | |
電流測定範囲 | DC0.50A~DC15.00A | |
電力測定範囲 | ストリング測定 | 10W~12000W |
モジュール単体測定 | 10W~500W | |
定格電源電圧 | 【単三電池×4本使用時】 DC6.0V(変動範囲DC4.5V~DC7.2V) |
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測定精度 | 電圧:±1%rdg±5dgt 電流:±1%rdg±5dgt 日射:±5%rdg±5dgt 温度:±1℃ |
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I-V特性 測定点数 | 100点 | |
I-V特性 測定時間 | ストリング測定 | 100ms以下 |
モジュール単体測定 | 200msまたは400ms(モジュール種別により選択) | |
機能 | ①I-V特性測定 ・ストリング測定(移動モード、同時モード) ・モジュール単体測定(移動モード、同時モード) ②電圧テスタ |
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データ保存件数 | 1日最大500ファイル×100日分 合計=最大50,000ファイル この件数以上となる場合は、データ管理ソフトウェアにてデータ管理を行って下さい。 SDカード内は、この件数を超えないようにデータを消去して下さい。 |
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その他の機能 | オートパワーオフ機能(5分) | |
形状 | 213(W)×203(H)×60(D)㎜ (突起含む) | |
重量 | 約1.3㎏(電池含まず) | |
付属品 | マグネットプロ―ブ2組、針状プロ―ブ1組、テストリード1組、SDカード、日よけ板、取扱説明書、 ショルダーベルト、単三アルカリ乾電池4個、キャリングケース |
モジュール・ストリングに異常が発生した場合のI-Vカーブの特徴を以下に示します。
※同様の異常モードであっても同じ様相となることを保証するものではありません。
①Iscの低下
< 現象 >
ストリング単位での発電低下(ストリング全体での遮光・減光)またはストリング構成違いのおそれ。
< 推定要因 >
・雲の影響等により測定時の日射そのものが変動
・砂塵等の汚損により、ストリング全体が遮光されている
・ストリング構成(並列回路数)の違い
②Voc~Pmaxの傾きの緩化
< 現象 >
ストリング内の直列抵抗の増加のおそれ。
< 推定要因 >
・コネクタのゆるみ、接触不良等
・パネルの劣化
③Isc~Pmaxの傾きの緩化
< 現象 >
モジュールの並列抵抗の低下のおそれ。
< 推定要因 >
・バイパスダイオードの劣化
④Voc付近で尾を引いている
< 現象 >
1枚~数枚のモジュールでパネル落ちには至らない発電低下のおそれ。
< 推定要因 >
・大きな影によるパネル単位での遮光
・砂塵の降積による汚損
⑤Pmax付近の低下
< 現象 >
クラスタ落ちまで至らない、一部セルの発電低下・停止のおそれ。
< 推定要因 >
・小さな影による数枚のセルへの遮光
⑥階段状の低下
< 現象 >
複数のクラスタ・モジュールで⑤のようなクラスタ落ちに至らない発電低下のおそれ。
< 推定要因 >
・大きな影による複数クラスタへの遮光
・砂塵の降積による汚損
・一部ガラス割れ等による遮光
⑦Vocの低下
< 現象 >
クラスタまたはパネル単位で発電停止のおそれ。ストリング構成違いのおそれ。
< 推定要因 >
・大きな影によるクラスタ、パネル単位での遮光
・砂塵の降積による広範囲の汚損
・ストリング構成(直列枚数)の違い
2022年12月19日 SPST-B-1000 本体ソフトウェア 更新ソフトウェア掲載
2024年3月29日 SPST-B-1000 データ管理ソフトウェア 更新ソフトウェア掲載