特長

• 4ストリング分の測定結果を1画面に表示します。
• ストリング間の相対比較方式のため、短時間で良否判定が簡単です。
• 結果をSDカードに保存でき、データをPCで利用可能です。
• 計測データ収集としても利用可能です。

機能

• 1.移動I-V特性測定
  1chのみ使用し、ストリングのI-V特性を測定します。結果は4ストリング分の測定結果まで同一グラフに表示し、 ストリング間の相対比較による異常判定を容易に行えます。1chのみ使用し、順次測定するため接続の手間がありません。
• 2.同時I-V特性測定
  最大4つのストリングのI-V特性を同時に測定し結果を保存します。結果は、測定データ分すべて(最大4つ)を同時に「グラフ表示」し、ストリング間の相対比較による異常判定を容易に行います。
• 3.ストリング電圧/電流測定
  一定時間毎に最大4つのストリングの電圧・電流を同時に測定し結果を保存します。（※クランプCT(オプション)が必要です。）測定項目、測定ストリングは自由に指定可能で、最大7日間連続測定ができます。結果は、「数値データ表示」「グラフ表示」が可能です。 （※測定モードを連続に選択される場合は、必ず本器に付属のACアダプタをご使用下さい。）
• 4.電圧テスタ(開放電圧測定)
  ストリングの開放電圧を測定することが可能です。

種類

定格および仕様

　 仕様一覧

　

• 形式

  SPST-A1A

• 電圧測定範囲

  【一般(シリコン系、化合物系等)】DC20.0V～DC700.0V
  【ハイブリッド系】　DC20.0V～DC600.0V

• 電流測定範囲

  【一般(シリコン系、化合物系等)】DC0.5A～DC10.0A
  【ハイブリッド系】DC0.5A～DC7.0A

• 電力測定範囲

  【一般(シリコン系、化合物系等)】10W～4900W
  【ハイブリッド系】10W～2900W

• 定格電源電圧

  【ACアダプタ使用時】AC100V～AC240V 50Hz/60Hz
  【単三電池×4本使用時】DC6.0V(変動範囲DC4.8V～DC7.2V)

• 測定精度

  電圧：±1%rdg±5dgt
  電流：±1%rdg±5dgt
  日射：±5%rdg±5dgt
  温度：±1℃

• I-V特性測定点数

  100点(1ストリングあたり)

• I-V特性測定時間

  約100ms(1ストリングあたり)

• 最大連続時間(LCDの明るさは+10設定時)

  LCD画面の表示をし続けた場合：約9時間
  タッチパネル操作を続けた場合：約6時間
  I-V特性測定を続けた場合：約4時間

• データ保存件数

  1日最大500ファイル×100日分＝最大50,000ファイル この件数以上となる場合は、データ管理ソフトウェアにてデータ管理を行って下さい。 SDカード内は、この件数を超えないようにデータ消去して下さい。

• その他の機能

  オートパワーオフ機能(5分)

• 形状

  115(H)×195(W)×70(D) mm

• 重量

  690g(乾電池含まず)

• 付属品

  ワニ口プローブ、針状プローブ1組、I-Vテストリード、SDカード、ACアダプタ、取扱説明書、ショルダーベルト、単三アルカリ乾電池4個、キャリングケース

Q&A

01

I-Vカーブの波形に対する異常の判定方法はどのようにしますか。

I-Vカーブを2～4ストリング重ねて表示しますので、カーブにずれのあるストリングが、何かしら発電量が低下しているストリングと判断することができます。

02

1枚のパネルの発電量を計測できますでしょうか。

SPST-B-1000にてモジュール単体測定が可能です。別途、オプション品のMC-4テストリードをご購入いただく必要があります。

03

SDカードに保存できるデータ量はどれくらいでしょうか。

1日最大500ファイル×100日分＝最大50,000ファイル
この件数以上となる場合はデータ管理ソフトウェアにてデータ管理を行って下さい。SDカード内はこの件数を超えないようにデータ消去して下さい。

04

CSVデータからグラフで見る方法はありますでしょうか。

ストリングトレーサ測定データ管理ソフトをダウンロード下さい。当社ホームページからダウンロードが可能です。

05

ストリング枚数が異なる場合はどうなりますか。

ストリングの実値では比較対象にはなりませんので、STC変換を推奨します。

06

データをプリントアウトしたいです。

SDカードに保存されたデータをPCで確認できるため、PCから印刷可能です。

07

校正は必要でしょうか。

期間としては2年に一回程度、定期的な校正を行うことをを推奨します。

詳細

不具合事例

モジュール・ストリングに異常が発生した場合のI-Vカーブの特徴を以下に示します。
※同様の異常モードであっても同じ様相となることを保証するものではありません。

①Iscの低下

＜　現象　＞
ストリング単位での発電低下(ストリング全体での遮光・減光)またはストリング構成違いのおそれ。

＜　推定要因　＞
・雲の影響等により測定時の日射そのものが変動
・砂塵等の汚損により、ストリング全体が遮光されている
・ストリング構成(並列回路数)の違い

②Voc～Pmaxの傾きの緩化

＜　現象　＞
ストリング内の直列抵抗の増加のおそれ。

＜　推定要因　＞
・コネクタのゆるみ、接触不良等
・パネルの劣化

③Voc～Pmaxの傾きの緩化

＜　現象　＞
モジュールの並列抵抗の低下のおそれ。

＜　推定要因　＞
・バイパスダイオードの劣化

④Voc付近で尾を引いている

＜　現象　＞
1枚～数枚のモジュールでパネル落ちには至らない発電低下のおそれ。

＜　推定要因　＞
・大きな影によるパネル単位での遮光
・砂塵の降積による汚損

⑤Pmax付近の低下

＜　現象　＞
クラスタ落ちまで至らない、一部セルの発電低下・停止のおそれ。

＜　推定要因　＞
・小さな影による数枚のセルへの遮光
・鳥獣害(鳥の糞害等)による小規模の汚損<
・一部ガラス割れ等による遮光

⑥階段状の低下

＜　現象　＞
複数のクラスタ・モジュールで⑤のようなクラスタ落ちに至らない発電低下のおそれ。

＜　推定要因　＞
・大きな影による複数クラスタへの遮光
・砂塵の降積による汚損
・一部ガラス割れ等による遮光

⑦Vocの低下

＜　現象　＞
クラスタまたはパネル単位で発電停止のおそれ。ストリング構成違いのおそれ。

＜　推定要因　＞
・大きな影によるクラスタ、パネル単位での遮光
・砂塵の降積による広範囲の汚損
・ストリング構成(直列枚数)の違い

受賞歴

（一社）日本電設工業協会会長賞受賞
2013年電設工業展（JECAFAIR）製品コンクールで（一社）日本電設工業協会会長賞を受賞しました。

ソフトウェア更新情報

2017年12月11日　SPST-A1、SPST-A1A、SPST-A2、SPST-A2A　更新ソフトウェア掲載

ソフトウェアダウンロード

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