I-V特性測定装置 ストリングトレーサ（700V対応品）
SPST-A1A
I-V特性測定装置 ストリングトレーサ（700V対応品）
特長
- 4ストリング分の測定結果を1画面に表示
- ストリング間の相対比較方式のため、短時間で良否判定が簡単
- 結果をSDカードに保存でき、データをPCで利用可能
- 計測データ収集としても利用可能
機能
- 同時I-V特性測定
- 移動I-V特性測定
- ストリング電圧/電流測定
- 電圧テスタ(開放電圧測定)
仕様
| 形式 | SPST-A1A | |
|---|---|---|
| 電圧測定範囲 | 【一般(シリコン系、化合物系等)】DC20.0V～DC700.0V 【ハイブリッド系】 DC20.0V～DC600.0V |
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| 電流測定範囲 | 【一般(シリコン系、化合物系等)】DC0.5A～DC10.0A 【ハイブリッド系】 DC0.5A～DC7.0A |
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| 電力測定範囲 | 【一般(シリコン系、化合物系等)】10W～4900W 【ハイブリッド系】 10W～2900W |
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| 定格電源電圧 | 【ACアダプタ使用時】AC100V～AC240V 50Hz/60Hz 【単三電池×4本使用時】DC6.0V(変動範囲DC4.8V～DC7.2V) |
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| 測定精度 | 電圧：±1%rdg±5dgt 電流：±1%rdg±5dgt |
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| I-V特性測定点数 | 100点(1ストリングあたり) | |
| I-V特性測定時間 | 約100ms(1ストリングあたり) | |
| 最大連続時間 (LCDの明るさは+10設定時) |
LCD画面の表示をし続けた場合：約9時間 タッチパネル操作を続けた場合：約6時間 I-V特性測定を続けた場合：約4時間 |
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| データ保存件数 | 1日最大500ファイル×100日分＝最大50,000ファイル この件数以上となる場合は、データ管理ソフトウェアにてデータ管理を行って下さい。 SDカード内は、この件数を超えないようにデータ消去して下さい。 |
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| その他の機能 | オートパワーオフ機能(5分) | |
| 形状 | 115(H)×195(W)×70(D)(mm) | |
| 重量 | 690g(乾電池含まず) |
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| 付属品 | ワニ口プローブ、針状プローブ1組、I-Vテストリード、SDカード、ACアダプタ、取扱説明書、ショルダーベルト、単三アルカリ乾電池4個、キャリングケース | |
機能説明
1.移動I-V特性測定
1chのみ使用し、ストリングのI-V特性を測定します。結果は4ストリング分の測定結果まで同一グラフに表示し、 ストリング間の相対比較による異常判定を容易に行えます。1chのみ使用し、順次測定するため接続の手間がありません。
2.同時I-V特性測定
最大4つのストリングのI-V特性を同時に測定し結果を保存します。結果は、測定データ分すべて(最大4つ)を同時に「グラフ表示」し、ストリング間の相対比較による異常判定を容易に行います。
3.ストリング電圧/電流測定
一定時間毎に最大4つのストリングの電圧・電流を同時に測定し結果を保存します。（※クランプCT(オプション)が必要です。）測定項目、測定ストリングは自由に指定可能で、最大7日間連続測定ができます。結果は、「数値データ表示」「グラフ表示」が可能です。 （※測定モードを連続に選択される場合は、必ず本器に付属のACアダプタをご使用下さい。）
4.電圧テスタ(開放電圧測定)
ストリングの開放電圧を測定することが可能です。
不具合事例
モジュール・ストリングに異常が発生した場合のI-Vカーブの特徴を以下に示します。
※同様の異常モードであっても同じ様相となることを保証するものではありません。
- ①Iscの低下
<現象>
ストリング単位での発電低下(ストリング全体での遮光・減光)またはストリング構成違いのおそれ。
<推定要因>
・雲の影響等により測定時の日射そのものが変動
・砂塵等の汚損により、ストリング全体が遮光されている
・ストリング構成(並列回路数)の違い
- ②Voc～Pmaxの傾きの緩化
<現象>
ストリング内の直列抵抗の増加のおそれ。
<推定要因>
・コネクタのゆるみ、接触不良等
・パネルの劣化
- ③Voc～Pmaxの傾きの緩化
<現象>
モジュールの並列抵抗の低下のおそれ。
<推定要因>
・バイパスダイオードの劣化
- ④Voc付近で尾を引いている
<現象>
1枚～数枚のモジュールでパネル落ちには至らない発電低下のおそれ。
<推定要因>
・大きな影によるパネル単位での遮光
・砂塵の降積による汚損
- ⑤Pmax付近の低下
<現象>
クラスタ落ちまで至らない、一部セルの発電低下・停止のおそれ。
<推定要因>
・小さな影による数枚のセルへの遮光
・鳥獣害(鳥の糞害等)による小規模の汚損
・一部ガラス割れ等による遮光
- ⑥階段状の低下
<現象>
複数のクラスタ・モジュールで⑤のようなクラスタ落ちに至らない発電低下のおそれ。
<推定要因>
・大きな影による複数クラスタへの遮光
・砂塵の降積による汚損
・一部ガラス割れ等による遮光
- ⑦Vocの低下
<現象>
クラスタまたはパネル単位で発電停止のおそれ。ストリング構成違いのおそれ。
<推定要因>
・大きな影によるクラスタ、パネル単位での遮光
・砂塵の降積による広範囲の汚損
・ストリング構成(直列枚数)の違い
ソフトウェア更新情報
2017年12月11日 SPST-A1、SPST-A1A、SPST-A2、SPST-A2A 更新ソフトウェア掲載
標準価格
| 形式 | 標準価格(税別) |
|---|---|
| SPST-A1A | 498,000 |
オプション品
| 品名 | 標準価格(税別) |
|---|---|
| クランプCT | 32,500 |
| 全天日射計・温度計 | 326,000 |
| マグネットプローブ(ケーブル一体型) | 7,400 |
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