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I-V特性測定装置 ストリングトレーサ

SPST-A1A・A2A

I-V特性測定装置 ストリングトレーサ

I-V特性測定装置 ストリングトレーサ

機能

特長

仕様

                                                                                              

形式 SPST-A1A SPST-A2A
電圧測定範囲 【一般(シリコン系、化合物系等)】DC20.0V~DC700.0V
【ハイブリット系】       DC20.0V~DC600.0V
DC20.0V~DC1000.0V
電流測定範囲 【一般(シリコン系、化合物系等)】DC0.5A~DC10.0A
【ハイブリット系】       DC0.5A~DC7.0A
DC0.5A~DC10.0A
電力測定範囲 【一般(シリコン系、化合物系等)】10W~4900W
【ハイブリット系】       10W~2900W
10W~8000W
定格電源電圧 【ACアダプタ使用時】AC100V~AC240V 50Hz/60Hz
【単三電池×4本使用時】DC6.0V(変動範囲DC4.8V~DC7.2V)
測定精度 電圧:±1%rdg±5dgt
電流:±1%rdg±5dgt
I-V特性測定点数 100点(1ストリングあたり)
I-V特性測定時間 約100ms(1ストリングあたり)
最大連続時間
(LCDの明るさは+10設定時)
LCD画面の表示をし続けた場合:約9時間
タッチパネル操作を続けた場合:約6時間
I-V特性測定を続けた場合:約4時間
データ保存件数 1日最大500ファイル×100日分=最大50,000ファイル
この件数以上となる場合は、データ管理ソフトウェアにてデータ管理を行って下さい。
SDカード内は、この件数を超えないようにデータ消去して下さい。
その他の機能 オートパワーオフ機能(5分)
形状 115(H)×195(W)×70(D)(mm)
重量 690g(乾電池含まず)
600g(乾電池含まず)
付属品 ワニ口プローブ、針状プローブ1組、I-Vテストリード、SDカード、ACアダプタ、取扱説明書、ショルダーベルト、単三アルカリ乾電池4個、キャリングケース

機能説明

1.移動I-V特性測定

1chのみ使用し、ストリングのI-V特性を測定します。結果は4ストリング分の測定結果まで同一グラフに表示し、 ストリング間の相対比較による異常判定を容易に行えます。1chのみ使用し、順次測定するため接続の手間がありません。

2.同時I-V特性測定

SPST-A1A(700V対応)形は最大4つ、SPST-A2A(1000V対応)形は最大2つのストリングのI-V特性を同時に測定し 結果を保存します。結果は、測定データ分すべて(SPST-A1A形は最大4つ、SPST-A2A形は最大2つ)を同時に「グラフ表示」し、ストリング間の相対比較による異常判定を容易に行います。

3.ストリング電圧/電流測定

一定時間毎にSPST-A1A形は最大4つ、SPST-A2A形は最大2つのストリングの電圧・電流を同時に測定し結果を保存します。 (※クランプCT(オプション)が必要です。)測定項目、測定ストリングは自由に指定可能で、最大7日間連続測定ができます。結果は、「数値データ表示」「グラフ表示」が可能です。 (※測定モードを連続に選択される場合は、必ず本器に付属のACアダプタをご使用下さい。)

4.電圧テスタ(開放電圧測定)

ストリングの開放電圧を測定することが可能です。

不具合事例

モジュール・ストリングに以上が発生した場合のI-Vカーブの特長を以下に示します。

※同様の異常モードであっても同じ様相となることを保証するものではありません。

不具合事例 図1

<現象>

ストリング単位での発電低下(ストリング全体での遮光・減光)またはストリング構成違いのおそれ。

<推定要因>

・雲の影響等により測定時の日射そのものが変動

・砂塵等の汚損により、ストリング全体が遮光されている

・ストリング構成(並列回路数)の違い


不具合事例 図2

<現象>

ストリング内の直列抵抗の増加のおそれ。

<推定要因>

・コネクタのゆるみ、接触不良等

・パネルの劣化


不具合事例 図3

<現象>

モジュールの並列抵抗の低下のおそれ。

<推定要因>

・バイパスダイオードの劣化


不具合事例 図4

<現象>

1枚~数枚のモジュールでパネル落ちには至らない発電低下のおそれ。

<推定要因>

・大きな影によるパネル単位での遮光

・砂塵の降積による汚損


不具合事例 図5

<現象>

クラスタ落ちまで至らない、一部セルの発電低下・停止のおそれ。

<推定要因>

・小さな影による数枚のセルへの遮光

・鳥獣害(鳥の糞害等)による小規模の汚損

・一部ガラス割れ等による遮光


不具合事例 図6

<現象>

複数のクラスタ・モジュールで⑤のようなクラスタ落ちに至らない発電低下のおそれ。

<推定要因>

・大きな影による複数クラスタへの遮光

・砂塵の降積による汚損

・一部ガラス割れ等による遮光


不具合事例 図7

<現象>

クラスタまたはパネル単位で発電停止のおそれ。ストリング構成違いのおそれ。

<推定要因>

・大きな影によるクラスタ、パネル単位での遮光

・砂塵の降積による広範囲の汚損

・ストリング構成(直列枚数)の違い

ソフトウェア更新情報

2017年12月11日 SPST-A1、SPST-A1A、SPST-A2、SPST-A2A 更新ソフトウェア掲載

ソフトウェアダウンロード

標準価格

                  

形式 標準価格(税別)
SPST-A1A 498,000
SPST-A2A 588,000

オプション品

                        

品名 標準価格(税別)
クランプCT 32,500
日射計・温度センサ(セット) 275,000
マグネットプローブ(ケーブル一体型) 6,400

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