I-V特性測定装置 ストリングトレーサ（1000V対応品）
SPST-B-1000
I-V特性測定装置 ストリングトレーサ（1000V対応品）
特長
- ストリング間の相対比較により良否判定が容易（4 ストリング同時表示）
- 同時測定機能により瞬間的な天候の変化にも影響を受けずに、同一条件での測定が可能
- 定格電圧1000V、定格電流15A 対応
- 直列抵抗を表示
- STC（基準状態）変換が可能
※日射計・温度計( オプション) が必要です。 - 結果をSD カードに保存、データをPC で利用可能
※データ管理ソフトウェアはWindows10 に対応しています。 - 記入項目「測定情報」を新たに設け、現場名等の情報を入力可能。
機能
- ストリング 測定(移動モード)
複数ストリングのI-V 特性を連続で測定することが可能
最大4 ストリング分のI-V 特性測定結果を同一グラフ上に表示し、ストリング間の相対比較による異常判定が容易に可能 - ストリング 測定(同時モード)
最大2 ストリングのI-V 特性を同時に測定することが可能
最大2 ストリング分のI-V 特性測定結果を同一グラフ上に表示し、ストリング間の相対比較による異常判定が容易に可能
ストリング状態チェックとして、開放電圧(Voc) を測定し、断線チェックが行える。 - モジュール単体測定( 移動・同時モード)
PVTEC ガイドラインに準拠した測定時間でI-V 特性試験が可能( 太陽電池モジュール単体のみ)
ストリング測定と同様に移動モード、同時モードでの測定が可能 - 電圧テスタ(開放電圧測定)
ストリングの開放電圧を測定可能
仕様
| 形式 | SPST-B-1000 | |
|---|---|---|
| 電圧測定範囲 | ストリング測定 | DC20.0V～DC1000.0V |
| モジュール単体測定 | DC20.0V～DC200.0V | |
| 電流測定範囲 | DC0.50A～DC15.00A | |
| 電力測定範囲 | ストリング測定 | 10W～12000W |
| モジュール単体測定 | 10W～500W | |
| 定格電源電圧 | 【単三電池×4本使用時】 DC6.0V (変動範囲DC4.8V～DC7.2V) |
|
| 測定精度 | 電圧：±1%rdg±5dgt 電流：±1%rdg±5dgt 日射：±5%rdg±5dgt 温度：±1℃ |
|
| I-V特性測定点数 | 100点 | |
| I-V特性測定時間 | ストリング測定 | 100ms以下 |
| モジュール単体測定 | 200msまたは400ms(モジュール種別により選択) | |
| 機能 | ①I-V特性測定 ・ストリング測定(移動モード、同時モード) ・モジュール単体測定(移動モード、同時モード) ②電圧テスタ |
|
| データ保存件数 | 1日最大500ファイル×100日分 合計＝最大50,000ファイル この件数以上となる場合は、データ管理ソフトウェアにてデータ管理を行って下さい。 SDカード内は、この件数を超えないようにデータ消去して下さい。 |
|
| その他の機能 | オートパワーオフ機能(5分) | |
| 形状 | 213(W)×203(H)×60(D)(mm)(突起含む) | |
| 重量 | 約1.3kg(電池含まず) | |
| 付属品 | マグネットプロープ2組、針状プローブ1組、テストリード1組、SDカード、日よけ板、取扱説明書、ショルダーベルト、単三アルカリ乾電池4個、キャリングケース | |
不具合事例
モジュール・ストリングに異常が発生した場合のI-Vカーブの特徴を以下に示します。
※同様の異常モードであっても同じ様相となることを保証するものではありません。
- ①Iscの低下
<現象>
ストリング単位での発電低下(ストリング全体での遮光・減光)またはストリング構成違いのおそれ。
<推定要因>
・雲の影響等により測定時の日射そのものが変動
・砂塵等の汚損により、ストリング全体が遮光されている
・ストリング構成(並列回路数)の違い
- ②Voc～Pmaxの傾きの緩化
<現象>
ストリング内の直列抵抗の増加のおそれ。
<推定要因>
・コネクタのゆるみ、接触不良等
・パネルの劣化
- ③Isc～Pmaxの傾きの緩化
<現象>
モジュールの並列抵抗の低下のおそれ。
<推定要因>
・バイパスダイオードの劣化
- ④Voc付近で尾を引いている
<現象>
1枚～数枚のモジュールでパネル落ちには至らない発電低下のおそれ。
<推定要因>
・大きな影によるパネル単位での遮光
・砂塵の降積による汚損
- ⑤Pmax付近の低下
<現象>
クラスタ落ちまで至らない、一部セルの発電低下・停止のおそれ。
<推定要因>
・小さな影による数枚のセルへの遮光
- ⑥階段状の低下
<現象>
複数のクラスタ・モジュールで⑤のようなクラスタ落ちに至らない発電低下のおそれ。
<推定要因>
・大きな影による複数クラスタへの遮光
・砂塵の降積による汚損
・一部ガラス割れ等による遮光
- ⑦Vocの低下
<現象>
クラスタまたはパネル単位で発電停止のおそれ。ストリング構成違いのおそれ。
<推定要因>
・大きな影によるクラスタ、パネル単位での遮光
・砂塵の降積による広範囲の汚損
・ストリング構成(直列枚数)の違い
標準価格
| 形式 | 標準価格(税別) |
|---|---|
| SPST-B-1000 | 685,000 |
オプション品
| 品名 | 標準価格(税別) |
|---|---|
| 全天日射計・温度計 | 326,000 |
| シリコン日射計・温度計 | 63,000 |
| MC4テストリード | 19,000 |
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